羅德史瓦茲宣佈大幅提高相位雜訊分析和VCO測量組合產品的效能 Rohde & Schwarz

羅德史瓦茲改進了相位雜訊分析和壓控振盪器（VCO）測量的效能。高階的R&S FSWP相位雜訊分析儀和VCO測試儀以及訊號和頻譜分析儀二合為一，R&S FSPN專用相位雜訊分析儀和VCO測試儀也已升級。硬體和軟體同時升級進一步提高了產品效能，降低了雜訊水平和測量時間，並提高了精度。兩款分析儀都包括測試序列記錄功能（SCPI記錄器），具備明顯優勢。.

圖：升級後的R&S FSWP和R&S FSPN相位噪聲分析儀採用了羅德與施瓦茨最新的標準設計，並提高了效能。

這兩款相位雜訊分析儀使用同樣的改進直流電源，從而降低了雜訊水平，進一步提高了靈敏度。電容屏也得到升級，具備更高的色彩強度和更好的防眩光效能，顯示屏在所有工作條件下都更明亮、更清晰。此外，更新後的使用者界面還支援縮放等多點觸控功能。對於雜訊非常低的振盪器，其固有的雜訊在較寬的偏移量上基本上是熱力學相關原因導致的，現在任何潛在的交叉譜系崩潰都得到了抑制。特別是對於生產用途，更高的VCO測量速度將有助於降低測試成本。通過新推出的SCPI指令記錄器，羅德史瓦茲首次在相位雜訊測量裝置上實現了記錄手動設定序列的功能。使用指令記錄器，工程師們可以輕鬆地建立可重複的測試序列，包括必要的同步以正確操作。

更新後的R&S FSPN和R&S FSWP相位噪聲分析儀現已上市。欲瞭解更多資訊，請訪問：: https://www.rohde-schwarz.com/_256174.html

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