Rohde & Schwarz驗證了NXP的下一代汽車雷達感測器參考設計，特別是用於極短目標距離的能力。

Rohde & Schwarz的雷達目標模擬器R&S RTS，作為汽車雷達的顛覆性解決方案，尤其是其能夠電子模擬非常近距離物體的能力，已被用於驗證NXP^®半導體的下一代雷達感測器參考設計的性能。這一合作使汽車產業在汽車雷達的發展上邁出了一步，該技術是實現先進駕駛輔助系統（ADAS）和自動駕駛功能的主要技術。.

NXP選擇R&S RTS雷達測試系統來驗證其業界首款28奈米RFCMOS單晶片雷達SoC的雷達感測器參考設計。

兩家公司的工程師進行了一系列全面的測試，以驗證基於NXP的28奈米RFCMOS雷達單晶片SoC（SAF85xx）的新感測器參考設計。R&S RTS雷達測試系統結合了R&S AREG800A汽車雷達回波產生器和R&S QAT100天線毫米波前端，提供了獨特的近距離物體模擬能力，以及卓越的射頻性能和先進的信號處理功能。這使得對下一代汽車雷達應用進行實際測試，並讓汽車產業對完全自動駕駛的願景更近一步成為可能。

NXP的下一代汽車雷達感測器參考設計由產業首款28奈米RFCMOS雷達單晶片SoC家族支援，利用了R&S RTS雷達測試系統。該雷達感測器參考設計可用於短、中和長距離雷達應用，以滿足具有挑戰性的NCAP（新車安全評等）的安全要求，以及高速駕駛員輔助系統（L2+和L3車輛）快速增長的領域的舒適功能。

R&S RTS是唯一適用於雷達感測器完整特性化和物件距離下降到待測雷達的氣隙值的測試系統。它將R&S AREG800A汽車雷達回波產生器作為後端，並使用R&S QAT100天線陣列或R&S AREG8-81S作為前端。這個優秀的測試解決方案適用於整個汽車雷達生命週期，包括開發實驗室、硬體在環（HIL）、車輛在環（VIL）、驗證和生產應用要求。該解決方案還是完全可擴展的，可以模擬先進駕駛輔助系統的最複雜交通場景。

NXP半導體的先進駕駛輔助系統研發高級總監Adi Baumann表示：“多年來，我們一直與Rohde & Schwarz密切而成功地合作，驗證我們汽車雷達感測器參考設計。Rohde & Schwarz領先的汽車雷達測試系統使我們能夠高品質、高效地驗證我們的汽車雷達產品，並證明了我們的雷達晶片的出色性能。Rohde & Schwarz為NXP提供的經驗水準、品質和支援正在產生積極影響。”

Rohde & Schwarz信號產生器、電源和儀錶副總裁Gerald Tietscher表示：“我們感謝與NXP的合作，加速基於28奈米汽車雷達晶片的先進汽車雷達感測器的部署。它們服務於越來越具有挑戰性的NCAP安全要求，並將有助於實現新的安全應用。我們在汽車雷達測試方面的經驗使我們能夠為這款業界首款28奈米RFCMOS單晶片雷達SoC的雷達感測器設計提供最佳的測試解決方案。”

NXP將於2024年1月9日至12日在拉斯維加斯的CES 2024貿易展上展示雷達的最新發展，包括汽車雷達感測器參考設計，展位位於西展館CP18/19。

www.rohde-schwarz.com

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