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Rohde & Schwarz

Rohde & Schwarz發佈片上器件特性測試解決方案

Rohde & Schwarz現在為DUT片上器件的全面射頻性能表徵提供測試解決方案,該解決方案結合了Rohde & Schwarz強大的R&S ZNA向量網路分析儀和FormFactor業界領先的工程探針系統。半導體製造商可以在開發階段、產品認證和生產過程中執行可靠且可重複的片上器件表徵。.

Rohde & Schwarz發佈片上器件特性測試解決方案
R&S ZNA向量網路分析儀與FormFactor SUMMIT200探針系統一起對晶片進行測量。©FormFactor

5G RF前端設計師需要確保RF能夠滿足頻率覆蓋和輸出功率,同時優化能效。該過程中的一個重要階段是RF設計調查,以儘早獲得設計回饋,並評估晶圓級的性能。表徵片上環境中的DUT需要測量系統,該測量系統包括向量網路分析儀(VNA)、探針台、RF探針、電纜或適配器、專用校準方法以及用於特定DUT或應用的校準基板。

為了滿足這些重要的測量要求,Rohde & Schwarz提供了高端R&S ZNA向量網路分析儀,該分析儀可表徵同軸和波導級的所有RF參數,以及用於67 GHz以上應用範圍的頻率擴展器。FormFactor通過手動、半自動和全自動探針系統解決晶圓接觸問題,包括熱控制、高頻探針、探針定位器和校準工具。包括R&S ZNA在內的整個測試系統的校準完全受FormFactor WinCal XE校準軟體支援。

由於測試設置具備完全校準,用戶可以使用R&S ZNA的所有測試功能。通用S參數測試可以表徵濾波器和有源器件,也可以執行失真、增益和交調測試對功率放大器進行驗證。該聯合解決方案還支援針對混頻器的頻率轉換測量,其相位特性涵蓋器件的整個頻寬。完全校準的設置還允許用戶直接從VNA獲得所有結果,無需後處理,校準資料直接應用於VNA。Rohde & Schwarz的頻率擴展器開闢了D波段等亞太赫茲頻率,是目前6G研究的重點。擴展器集成到探針台,確保最短的佈線並實現最佳的動態範圍,同時避免由於到探針尖端的佈線造成的損耗。

欲瞭解更多關於晶圓級RF特性驗證的資訊以及FormFactor和Rohde & Schwarz解決方案如何協作,請參照: https://www.rohde-schwarz.com/_56279-1241099.html

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